問：MODE CM可以測(cè)試二極管并聯(lián)？

答：是的，MODE CM還可以對(duì)電解電容進(jìn)行兩端漏電流測(cè)試。

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問：電阻并聯(lián)大電容(3uF以上)可使用MODE CV節(jié)省debug測(cè)試時(shí)間？

答：是的。

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問：二極管并聯(lián)小電阻可以測(cè)試嗎？

答：電阻阻值不少于8歐母，二極管可以測(cè)試。

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問：電阻并聯(lián)二極管造成電阻之量測(cè)值偏低，可使MODE D2解決？

答：對(duì),也可選擇MODE V5。

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問：電阻并聯(lián)電感使量測(cè)值接近0 歐，可使用MODE P1, P2, P3, P4, P5交流相位量測(cè)法，使量測(cè)值較接近真實(shí)值？

答：是的。

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問：穩(wěn)壓IC 比如：7805 ICT可以測(cè)試嗎？

答：穩(wěn)壓IC可以測(cè)試，設(shè)備采用Reed Relay 耐大電流大電壓。

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問：小電容并聯(lián)大電容，如果電容值相差10倍以上時(shí)，小電容缺件可能無法被量測(cè)出來？

答：是的。

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問：二極管與大電容(3mF)以上并聯(lián)之ICT量測(cè)方法，增加延時(shí)及電壓源？

答：是的。