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| AOI | ICT | ATE | AXI | 飛針 | |
| 成本 | 較高 | 低 | 高 | 高 | 高 |
| 工作模式 | 光學(xué)測(cè)試 | 電氣測(cè)試 | 電氣測(cè)試 | 光學(xué)X射線 | 電氣測(cè)試 |
| 測(cè)試對(duì)象 | SMD | SMD/DIP | SMD/DIP | BGA | SMD/DIP |
| 檢測(cè)重點(diǎn) | 物理?yè)p件 | 電氣+物理 | 電氣+物理 | 物理?yè)p件 | 電氣+物理 |
| 開/短路 | 光學(xué)測(cè)試 | 電氣測(cè)試 | 電氣測(cè)試 | 光學(xué)測(cè)試 | 電氣測(cè)試 |
| 夾具 | 無(wú) | 有,成本低 | 成本很高 | 無(wú) | 無(wú) |
| 時(shí)間/速度 | 慢 | 快 | 較快 | 慢 | 很慢 |
| 誤判率 | 高 | 低 | 低 | 較低 | 高 |
| 維護(hù)費(fèi)用 | 較低 | 低 | 很高 | 較高 | 高 |
使用以上設(shè)備主要目的都是為了提高生產(chǎn)工藝水平，提高生產(chǎn)質(zhì)量也就是所謂制程良率。ICT，ATE，飛針測(cè)試是通過電氣測(cè)試檢測(cè)元件，在檢測(cè)制程的同時(shí)也檢測(cè)元件的電氣良率，并可幫助維修提高出貨良率及提高返修效率。就ICT而言，各家軟/硬件電路各異，有的硬體設(shè)計(jì)復(fù)雜自我保護(hù)性高，硬體不易損壞，測(cè)試量程寬信號(hào)廣，如派捷PTI816。有的設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單成本低，無(wú)相關(guān)輔助保護(hù)電路設(shè)計(jì)，如：在待測(cè)板帶電的情況下測(cè)試會(huì)損壞設(shè)備等。
